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納米粒度及Zeta電位分析儀
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BeNano 180 納米粒度分析儀是丹東百特儀器公司開發的采用背向散射技術用于檢測納米顆粒粒度及其分布的光學檢測系統。
傳真:0415-6170645
郵箱:sales@bettersize.com
地址:丹東市臨港產業園金泉工業區甘泉路9號
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